裝置簡介

  裝置主要由黑體輻射源、位移機構、標準樣管、可編程直流偏置源、圖形發生器、可編程時鐘驅動源、數據采集系統、計算機及相應測控軟件、傳遞件等組成，采用雙面源黑體測量紅外焦平面陣列的黑體響應率、噪聲、黑體探測率、響應率不均勻性等參數。

主要用途

  裝置主要用于測量紅外焦平面陣列的黑體響應率、噪聲、黑體探測率和響應率不均勻性等參數。同時可以對紅外焦平面陣列黑體響應率、噪聲、黑體探測率測試系統進行校準。

主要技術指標

  黑體響應率測量不確定度：6%   (k=2)

  噪聲測量不確定度： 8%   (k=2)

  黑體探測率測量不確定度: 10%  (k=2)

  響應率不均勻性測量不確定度： 1%   (k=2)