裝置簡介
裝置主要由可調諧激光光源、偏振控制器、光纖干涉裝置、參考高速O/E器件、頻譜分析儀、矢量網絡分析儀、光功率計、微波功率計等組成。采用改進的光外差干涉技術對高速光電器件帶寬進行測量。
主要用途
裝置可以準確測量各種帶寬達40GHz的O/E和E/O器件的頻率響應特性,通過標準件實現對O/E和E/O器件頻率響應特性測試系統的計量校準。
主要用途
裝置可以準確測量各種帶寬達40GHz的O/E和E/O器件的頻率響應特性,通過標準件實現對O/E和E/O器件頻率響應特性測試系統的計量校準。
主要技術指標
校準波長:1310nm、1550nm
測量頻率范圍:300kHz~6GHz、1GHz~40GHz
帶寬測量不確定度:5% (k=2)