裝置介紹

裝置主要由相關光子源、皮秒脈沖激光器、時間幅度轉換儀、信號發生器、計數器等儀器等組成。采用相關光子法測量單光子探測器的量子效率。利用激光衰減脈沖光源激勵單光子探測器產生光子計數脈沖，通過計數器等儀器測量時間特性參數。利用超低噪聲放大器和陷阱探測器把光子流速率溯源到低溫輻射計光功率標準，實現單光子探測器性能參數的測量。

主要用途

裝置主要用于超靈敏探測技術領域中的單光子探測器計數特性參數測量。

主要技術指標

測量波長：780nm、1550nm；

光子流速率測量不確定度：2.5%（k=2）；

探測效率測量不確定度：0.8%（k=2）；

后脈沖概率測量不確定度：20%（k=2）；

死時間測量不確定度：2%（k=2）；

暗計數率測量不確定度：2%～5%（k=2）；

時間抖動測量不確定度：5%（k=2）。