裝置簡介
裝置由黑體源、紅外刀口成像光學系統、三維精密位移臺、紅外焦平面陣列數據采集系統、計算機及測控軟件等部分組成,采用刀口掃描法測量紅外焦平面陣列的調制傳遞函數。
主要用途
裝置主要用于紅外焦平面陣列調制傳遞函數的計量校準。
主要技術指標
調制傳遞函數測量不確定度:0.08(k=2,1μm~3μm)
0.10(k=2,3μm~5μm)
0.12(k=2,8μm~12μm)