裝置簡介
裝置由積分球、單色儀、標準探測器、三維電控位移臺、數據采集系統、計算機及測控軟件等部分組成。采用單色均勻光輻射法測量CCD器件的量子效率。
主要用途
主要用于軍用、科學級及商用可見光CCD器件量子效率的測量。
主要技術指標
波長范圍:400nm~1100nm
量子效率測量不確定度:4.0%(k=2)